x射线荧光测厚仪设计
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产品描述

厚度范围0-50um 分析时间30s RDS小于5% 分析精度0.005um 分析层数5层 电源电压220V 环境温度15-30度 产品规格上照式
镀层测厚仪产品详细资料介绍,镀层测厚仪配置和产品构造请咨询江苏天瑞仪器股份有限公司提供镀层测厚仪产品原理说明书和产品报价。微米级的金属镀层厚度分析通常用到x射线荧光分析技术,由原子外层电子跃迁所产生光谱能量叫x射线荧光,不同金属的荧光光谱能级不同,从而有了成分分析和厚度分析的基础。
天瑞仪器XRF镀层测厚仪thick800A制造标准
我公司产品严格按照、江苏省产品质量监督检验站的质量标准、检验标准及制造计量器械标准实施生产及检测,保证货物是全新的、未使用过的并完全符合合同规定的质量、规格、性能和技术规范等的要求。我方承诺在签订合同后规定时间内,负责按采购数量送至的地点。
x射线荧光测厚仪设计
满足各种不同厚度样品以及不规则表面样品的测试需求 
φ0.1mm的小孔准直器可以满足微小测试点的需求 
高精度移动平台可定位测试点,重复定位精度小于0.005mm
采用高度定位激光,可自动定位测试高度 
定位激光确定定位光斑,确保测试点与光斑对齐 
鼠标可控制移动平台,鼠标点击的位置是被测点 
高分辨率探头使分析结果更加 
良好的射线屏蔽作用 
测试口高度敏感性传感器保护
方案。
x射线荧光测厚仪设计
X射线荧光金属电镀层厚度测试仪介绍
Thick800A是天瑞集多年的经验,研发用于镀层行业的一款仪器,可全自动软件操作,可多点测试,由软件控制仪器的测试点,以及移动平台。是一款功能强大的仪器,配上为其开发的软件,在镀层行业中可谓大展身手。
性能特点
满足各种不同厚度样品以及不规则表面样品的测试需求
φ0.1mm的小孔准直器可以满足微小测试点的需求
高精度移动平台可定位测试点,重复定位精度小于0.005mm
采用高度定位激光,可自动定位测试高度
定位激光确定定位光斑,确保测试点与光斑对齐
鼠标可控制移动平台,鼠标点击的位置是被测点
高分辨率探头使分析结果更加
良好的射线屏蔽作用
测试口高度敏感性传感器保护
x射线荧光测厚仪设计
金属镀层厚度分析仪产品介绍


江苏天瑞仪器股份有限公司生产销售金属镀层厚度分析仪THICK800A用于铜镀银层厚度的测试。天瑞仪器作为国内家创业板上市的分析仪器尝试,其主营产品Thick800A已经成为镀层行业检测的标准仪器,几乎60%的企业使用thick800a来检测金属镀件的厚度。它的薄测试达0.005微米,分析误差在5%以内。同时可分析多层电镀,合金层电镀,PCB镀金,通信连接件,镀铬,镀镍,镀锌,镀锡的厚度。




仪器配准样品台:XY轴可控制、Z轴自动控制,可调高度为0-14cm


镀层测厚仪,镀层膜厚仪,电镀膜厚仪,金属镀层膜厚仪,镀层膜厚测试仪,X射线荧光测厚仪,X射线镀层测厚仪,X荧光镀层测厚仪,XRf膜厚测试仪,X-ray测厚仪,厚度测量仪器,X荧光光谱仪检测金属电镀层厚度,国产XRF膜厚仪,镀金层厚度测试仪,铜镀银测厚仪,锌层测厚仪,铁镀铬测厚仪,铁镀锌测厚仪


技术参数:


元素分析范围从硫(S)到铀(U)。
同时可以分析30种以上元素,五层镀层。
分析含量一般为ppm到99.9% 。
镀层厚度一般在50μm以内(每种材料有所不同)
任意多个可选择的分析和识别模型。
相互立的基体效应校正模型。
多变量非线性回收程序
度适应范围为15℃至30℃。
电源: 交流220V±5V, 建议配置交流净化稳压电源。
外观尺寸: 576(W)×495(D)×545(H) mm
样品室尺寸:500(W)×350(D)×140(H) mm
重量:90kg


应用领域


黄金,铂,银等贵金属和各种首饰的含量检测.
金属镀层的厚度测量, 电镀液和镀层含量的测定。
主要用于贵金属加工和首饰加工行业;银行,首饰销售和检测机构;电镀行业。 
我公司将通过自行研发的SKYRAY远程设备智能平台对设备的运行状态进行远程协助诊断。我公司的每台在线仪器均可通过内置无线GPRS模块连接至此平台,实现仪器的远程运行诊断。
在传统的设备维护概念中,现场支持是解决问题的主要手段,而在新的技术条件下,远程协支持明显优于现场支持模式,系统数据表明,在IT行业中有不低于70%的系统失败属于软件故障,其中绝大部分可以通过远程方式解决,因此说远程服务是提高工作效率,节省维护费用的有力手段。而现在的网络发展也使这一手段成为可能,在用户允许的前提下,我们的将通过远程登入的方式,快速而直接的对系统进行诊断与故障排除。
因此当电话支持不足以解决问题或故障情况比较复杂时,我们的技术人员将在甲方技术人员的协助下,通过远程登录进入用户的局域网。我们的技术人员在用户技术人员的协助下确定故障原因,找出解决问题并排除问题的办法。
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