x荧光光谱分析仪

X荧光光谱分析仪产品详细资料介绍，X荧光光谱分析仪性能参数和产品配置由江苏天瑞仪器股份有限公司提供x荧光光谱仪销售务。EDX6000B 是天瑞仪器新研发的一款仪器，可用于rohs卤素检测，镀层厚度分析，金属材料成分检测，陶瓷元素分析，石灰石煤灰成分测试，水泥行业，矿产行业等，内置自动移动转盘，可同时测试多个样品，操作简单方便。

薄窗大面积的原装进口SDD探测器。
抽真空样品腔，有利于低含量轻元素的分析
针对不同样品可自动切换准直器和滤光片。
任意多个可选择的分析和识别模型
相互独立的基体效应校正模型
多变量非线性回归程序
智能全元素分析软件，与仪器硬件相得益彰，且操作简单。
元素分析范围：从钠（Na）至铀（U）
元素含量分析范围：ppm—(不同材质，分析范围不同)
同时分析元素：同时可以分析30种以上元素
检测限：RoHS指令规定的有害元素（Cd/Pb/Cr/Hg/Br）检出限高达ppm级
测量镀层：镀层厚度测量薄至0.005微米
测量对象状态：粉末、固体、液体
测量时间：60秒—200秒
工作温度:15℃—30℃
工作湿度：≤70
工作电压：AC 110V/220V